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　　YYVIP易游·(中国有限公司)官方网站-1、测量品种范围：镍（0）；铬（1）；铜（2）；锌（3）；镉（4）；锡（5）；银（6）；金（7）。其它镀层可定制。

　　4、可测多层镍：二层或三层以上的每一层不同金属镀层的厚度，也可测定具有基本型仪器所拥有的功能外，还可测定多层镍的各层间电位差。

　　1、测量品种范围：镍(0)；铬(1)；铜(2)；锌(3)；镉(4)；锡(5)；银(6)；金(7)。其它镀层可定制。

　　1、测量品种范围：镍(0)；铬(1)；铜(2)；锌(3)；镉(4)；锡(5)；银(6)；金(7)。其它镀层可定制。

　　MIKROTEST覆层测厚仪、测量钢上非磁性涂层镀层厚度(如漆、粉末涂层、塑料、锌、铜、锡及镍)。

　　F型探头采用磁性法，可测量磁性金属基础（如钢、铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆盖层的厚度（如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等）。

　　N型探头采用涡流法，可测量非铁磁性金属基体（如铜、铝、锌、錫等）和奥氏体不锈钢上非导电覆盖层的厚度（如：橡胶、油漆、塑料、阳极氧化膜等）。

　　本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损地测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度及非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度。

　　测头主机一体，结构紧凑，单手操作；测头顶部由非常耐磨的硬制材料制成，保证长期使用而不损坏。标准箔及标准板可安全地存放在内置储存仓内。

　　时代之峰F1探头是磁性法测量的通用标准探头，测量范围0-1250um，基本覆盖大部分涂层厚度范围，也是TT260的标配探头。

　　适用于测量钢、铁等磁性金属基体上的非铁磁性涂层、镀层，例如：漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。

　　CMI153便携式涂镀层测厚仪结合磁感应和电涡流技术，在CMI150涂层测厚仪基础上，通过增强操作性能及出色的底材灵敏度，改进了测量探头。

　　磁性、涡流两用型，可选择配置多种不同的探头，可设置极限值，带有统计计算功能

　　磁性、涡流两用型，可选择配置多种不同的探头，可设置极限值，带有统计计算功能

　　磁性法，自动测量，不用校准设定，不需要电池或者其他电源，刻度显示，探头主机一体化

　　磁性法，自动测量，不用校准设定，不需要电池或者其他电源，刻度显示，探头主机一体化

　　磁性、涡流两用型，可更换六种不同测头，打印输出，可与PC连接，可设置限界，可手动关机，也可自动关机。

　　适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他超声波的良导体的厚度

　　适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他超声波的良导体的厚度

　　适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他超声波的良导体的厚度。

　　适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他超声波的良导体的厚度。

　　适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他超声波的良导体的厚度。

　　可利用已知厚度试块测量声速，适合测量金属、塑料、陶瓷、玻璃及其他超声波的良导体的厚度

　　高温耦合剂，适用于TT120超声波测厚仪，温度范围:-50℃~+300℃

　　该产品产泛应用于油气田装备、石化炼化设施、管道压力容器、特检、新材料的无损检测。

　　TT700超声波测厚仪是北京时代之峰科技有限公司推出的一款使用简便、测量准确的仪器，广泛应用于金属和非金属材料的薄件测量或高精度测量。

　　可利用已知厚度试块测量声速，适合测量金属、塑料、陶瓷、玻璃及其他超声波的良导体的厚度

　　可利用已知厚度试块测量声速，适合测量金属、塑料、陶瓷、玻璃及其他超声波的良导体的厚度

　　可利用已知厚度试块测量声速，适合测量金属、塑料、陶瓷、玻璃及其他超声波的良导体的厚度，可测试铸件的厚度。

　　可利用已知厚度试块测量声速，适合测量金属、塑料、陶瓷、玻璃及其他超声波的良导体的厚度，可测试高温体的厚度。

　　可利用已知厚度试块测量声速，适合测量金属、塑料、陶瓷、玻璃及其他超声波的良导体的厚度。

　　可利用已知厚度试块测量声速，适合测量金属、塑料、陶瓷、玻璃及其他超声波的良导体的厚度,存储量大，厚度小于100mm显示分辨率0.01mm

　　可利用已知厚度试块测量声速，适合测量金属、塑料、陶瓷、玻璃及其他超声波的良导体的厚度，厚度小于100mm显示分辨率0.01mm

　　QUJ漆膜测厚仪(杠杆千分尺)测定油漆涂料干膜厚度。通过涂覆前后的比较测量干膜厚度。

　　广泛用于测量纸张、纸板和瓦楞纸板厚度的测量，其技术参数符合相关国家标准规定

　　广泛用于测量纸张、纸板和瓦楞纸板厚度的测量，其技术参数符合相关国家标准规定

　　广泛用于测量纸张、纸板和瓦楞纸板厚度的测量，其技术参数符合相关国家标准规定

　　CHY-CA薄膜厚度测量仪适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度准确测量。

　　CHY-C2薄膜测厚仪采用机械式测量方法，适用于塑料薄膜量程范围内多种材料的精确厚度测量。

　　本测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜或薄片）。本测厚仪执行标准GB/T6672-2001标准。

　　本测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜或薄片）。本测厚仪执行标准GB/T6672-2001标准。

　　该设备适用于平张式样的厚度测定。符合ISO534纸和纸板单层厚度的测定，以及纸板紧度的计算方法：ISO438纸层积厚度和紧度的测定；GB/T451.3纸和纸板厚度测定方法；GB/T1983松软纸厚度的测定法。

　　该设备适用于平张式样的厚度测定。符合ISO534纸和纸板单层厚度的测定，以及纸板紧度的计算方法：ISO438纸层积厚度和紧度的测定；GB/T451.3纸和纸板厚度测定方法；GB/T1983松软纸厚度的测定法。

　　本测厚仪是用于测量硫化橡胶或热塑性橡胶试验用试样和制品等厚度的测量仪器，本仪器具有结构简单、使用方便、测量快速、直感等特点，其执行GB/T5723-93标准。